Ruch elektronów w półprzewodnikach jest jednym z kluczowych aspektów przy projektowaniu urządzeń elektronicznych, szczególnie tych o wysokiej wydajności i prędkości działania. Zrozumienie zależności między polem elektrycznym, prędkością elektronów oraz ich energią w kontekście pól czasowych, takich jak pola elektryczne zmieniające się w czasie, stanowi podstawę dla opracowania urządzeń o jeszcze lepszych parametrach. W tym kontekście kluczowe jest badanie transportu elektronów w stanach nierównowagi, które mogą wpływać na charakterystykę urządzeń takich jak tranzystory o wysokiej mobilności elektronów (HEMT) czy inne struktury submikronowe.

W analizowanym przykładzie rozpatruje się zależności prędkości elektronów v(t) oraz energii ε(t) od czasu, które można uzyskać z funkcji czasowych w odpowiedzi na pole elektryczne. Na przykład, dla pól elektrycznych F0 = 0.5 oraz F1 = ±1, obserwuje się cykliczne zmiany tych parametrów w czasie. Po dziesięciu okresach zewnętrznego pola przemiennego, prędkość i energia elektronów osiągają stan ustalony, a więc układ przechodzi w stan równowagi dynamicznej. W początkowej fazie eksperymentu, elektrony osiągają bardzo wysokie wartości prędkości i energii, co jest wynikiem zjawisk „overshoot” (przebicia) i „overhot” (przegrzania). W tym czasie elektron nie ma wystarczająco dużo czasu na kolizje, co prowadzi do krótkotrwałego wzrostu prędkości.

Dalsza analiza wykazuje, że w stanie ustalonym prędkość v(t) jest funkcją periodyczną o okresie T = 2π/ω. Prędkość jest sumą składników stałej i harmonicznych, z których każdy z nich jest związany z odpowiednią częstotliwością ω. Wartości składników cosϕn pokazują, jak fazy różnych harmonicznych prądów zmieniają się w odpowiedzi na zmieniające się pole elektryczne. Ważne jest, aby zrozumieć, że zmieniające się fazy wpływają na to, czy prąd o pierwszej harmonicznej jest w zgodzie z polem zewnętrznym, czy też jest odwrotny, co może prowadzić do wzmocnienia pola elektrycznego.

Obserwacje wykazują, że rezonansowe wierzchołki prądu stałego j0 w zależności od F0 oraz F1 są wyraźnie widoczne na wykresach. Resonansem są zaznaczone wartości częstotliwości ωB = ω, 2ω, 3ω, które są wyraźnie odwzorowane w wynikach eksperymentalnych. Wzrost natężenia prądu zewnętrznego powoduje również wzrost częstotliwości rezonansowych. Analiza składowych harmonicznych prądu (j0, j1, j2, j3) pokazuje, że przy częstotliwości ωB = ω składowe j1 i j2 mogą osiągać wartości większe niż składowa j0.

Podobnie jak w przypadku obserwacji prądów, również fazy dla różnych harmonicznych (cosϕn) zmieniają się w zależności od pola elektrycznego F0. Szczególnie interesujący jest efekt negatywnej wartości cosϕ1, która wskazuje, że prąd pierwszej harmonicznej jest w przeciwej fazie do pola zewnętrznego, co prowadzi do jego wzmocnienia.

Zjawisko „overshoot” jest szczególnie istotne w kontekście projektowania urządzeń o bardzo wysokiej szybkości, takich jak tranzystory FET (Field Effect Transistor). Przewidywanie optymalnego rozkładu pola elektrycznego oraz stężenia domieszek w półprzewodnikach jest kluczowe w procesie projektowania. Analiza ruchu elektronów w jednorodnym półprzewodniku oraz zachowanie prędkości dryfu v(t) w zależności od czasu może pozwolić na określenie średniej prędkości elektronów w danym czasie, co stanowi podstawę do dalszego rozwoju technologii wysokoprędkościowych urządzeń elektronicznych.

Przykładem mogą być obliczenia dotyczące średniej prędkości i energii elektronów w półprzewodniku GaAs, które są pokazane na rysunkach. W przypadku impulsu pola elektrycznego o wartości 7 kV/cm, oraz impulsu 70 kV/cm, elektrony mogą osiągać prędkości nawet do 3.5×107 cm/s i 108 cm/s, w zależności od rodzaju impulsu. Przykłady te, jak i obliczenia prędkości elektronów na podstawie przebytej odległości d, ukazują fundamentalne różnice pomiędzy efektami „overshoot” a efektami „ballisticznymi” (balistycznymi). W przypadku overshootu prędkość osiąga maksymalne wartości, ale tylko w krótkim okresie, podczas gdy w przypadku balistycznym elektron porusza się zgodnie z zakłóconym polem elektrycznym na dalszą odległość.

Rozważania te pokazują, jak złożony jest proces transportu elektronów w urządzeniach półprzewodnikowych, szczególnie w kontekście zmian polowych w przestrzeni i czasie. Wraz z miniaturyzacją urządzeń, rola tego rodzaju efektów staje się coraz bardziej istotna, dlatego należy rozumieć, w jaki sposób różne konfiguracje pola elektrycznego oraz przestrzenne gradienty pola wpływają na ruch elektronów. Efekty te są szczególnie ważne w przypadku projektowania tranzystorów o wysokiej mobilności elektronów, które są podstawą dla nowoczesnych technologii elektronicznych. W tym kontekście modelowanie i symulacje numeryczne, takie jak symulacje Monte Carlo, pozwalają na dokładniejsze przewidywanie zachowań transportu elektronów w realnych urządzeniach.

Jak działa spin-polarizowane urządzenie interferencyjne z bramką w strukturze wielotorowej?

W analizowanej strukturze, która składa się z kilku torów kwantowych i bramek sterujących, badamy zjawisko spin-polarizacji elektronów, które przechodzą przez układ. Wejściowy elektron z określoną energią i polaryzacją spinu skierowaną w stronę dodatnią osi x wchodzi do pierwszego obwodu. Funkcje falowe, które opisują ten proces, można zapisać w postaci:

ψ1=a10φ1(0)eik1l1+a20φ2(0)eik2l1+a1φ1(π)eik1l1+a2φ2(π)eik2l1\psi_1 = a_{10} \varphi_1(0) e^{ik_1 l_1} + a_{20} \varphi_2(0) e^{ik_2 l_1} + a_1 \varphi_1(\pi) e^{ -ik_1 l_1} + a_2 \varphi_2(\pi) e^{ -ik_2 l_1}

oraz

ψ2=c1φ1(π/2)eik1l2+c2φ2(π/2)eik0l2sin[k0(l2L2)]\psi_2 = c_1 \varphi_1(\pi/2) e^{ik_1 l_2} + c_2 \varphi_2(\pi/2) e^{ -ik_0 l_2} \sin[k_0(l_2 - L_2)]

W tej analizie zakłada się, że długość bramki L2L_2 może być kontrolowana za pomocą napięcia na bramce, co wprowadza zmienność w transmitancji i refleksji elektronów. Na podstawie warunków brzegowych, które określają interakcję elektronów w różnych obwodach, uzyskuje się zależności dla współczynników transmisji i refleksji.

Jednym z ważniejszych wyników jest to, że prawdopodobieństwo transmisji T21=c12T_{21} = |c_1|^2 równa się sin2(kδL1)\sin^2(k\delta L_1). W tym przypadku nie ma elektronów ze spinem w dół, które przechodziłyby przez końcowy obwód 2. Prawdopodobieństwo odbicia R11=R12=cos2(kδL1)/2R_{11} = R_{12} = \cos^2(k\delta L_1)/2 zależy od współczynnika Rashby α\alpha. W przypadku, gdy k2δL1=mαL1/=nπk^2 \delta L_1 = m^* \alpha L_1 / \hbar = n\pi, transmisja T21=0T_{21} = 0, co oznacza pełne odbicie wszystkich elektronów, natomiast dla k2δL1=mαL1/=nπ/2k^2 \delta L_1 = m^* \alpha L_1 / \hbar = n\pi / 2, transmisja T21=1T_{21} = 1, a wszystkie elektrony opuszczają układ z spinem w górę. Taka struktura działa więc jak spin-dioda, w której procesy odbicia i transmisji zależą od polaryzacji spinu elektronów.

Podobny efekt pojawia się w strukturze z bramką, gdzie obwód 1 pełni funkcję źródła, obwód 3 – drenażu, a obwód 2 jest sterowany przez napięcie na bramce. Długość bramki L2L_2 wpływa na transmitancję i refleksję w sposób oscylacyjny, z wyraźnym wpływem współczynnika Rashby α\alpha. Interferencja spowodowana przez bramkę zmienia amplitudy prawdopodobieństw transmisji T31T_{31} i T32T_{32}, które oscylują w zależności od wartości α\alpha, osiągając minimalne wartości dla α=73meV nm\alpha = 73 \, \text{meV nm}, a następnie rosną. Tego rodzaju struktura pełni rolę spin-polarizowanego urządzenia interferencyjnego, którego działanie można kontrolować za pomocą napięcia na bramce.

Interferencja w układzie wielotorowym może prowadzić do dynamicznego modulowania transmisji w zależności od parametrów układu, takich jak współczynnik Rashby, długość bramki L2L_2 i inne zmienne. W przypadku struktur z wieloma obwodami z ferromagnetycznymi stykami, transmisja zależy od kierunku spinów, a przy odpowiednich warunkach może dochodzić do sytuacji, gdzie tylko spin-w górę lub tylko spin-w dół może przejść przez dany tor.

Dzięki takim urządzeniom możliwe staje się manipulowanie spinami elektronów w sposób kontrolowany, co otwiera drogę do zaawansowanych technologii spintroniki, w których informacja jest przetwarzana nie tylko poprzez ładunek, ale także przez spin elektronów.