Využití 2D polovodičových materiálů v moderních technologických aplikacích závisí na jejich schopnosti ovlivňovat různé vlastnosti, přičemž klíčovým faktorem je interfejsová a geometrická struktura těchto materiálů. Tyto vlastnosti umožňují optimalizaci výkonu a efektivity zařízení, ve kterých jsou použity, od elektronických obvodů po zařízení pro ukládání energie.
Jednou z významných aplikací 2D polovodičových vrstev je jejich využití v termoelektrických zařízeních, které přeměňují odpadní teplo na elektrickou energii. Interakce mezi 2D polovodiči a jinými materiály se zkoumá kvůli jejich potenciálnímu využití v řízení teploty, například v tepelných rozvaděčích. Tato schopnost zlepšovat odvod tepla je důležitá pro elektronická a optoelektronická zařízení, kde efektivní přenos tepla znamená lepší výkonnost a stabilitu zařízení. V praxi to znamená nejen lepší chlazení, ale i delší životnost zařízení díky optimalizovanému teplotnímu managementu.
V oblasti ukládání energie hrají 2D polovodičové materiály zásadní roli v bateriích a superkondenzátorech. Interfacing mezi 2D polovodiči a materiály elektrody zlepšuje kapacitu ukládání energie tím, že podporuje rychlý přenos náboje a poskytuje větší povrchovou plochu pro interakce s elektrolytem. To znamená, že materiály jako MoS2, WS2 nebo jiné dvouvrstvé TMDC (transition metal dichalcogenides) mohou být použity k dosažení vyšší kapacity ukládání náboje a zlepšení celkového výkonu zařízení. Velký povrch a atomová tenkost těchto materiálů umožňují snížení samovybíjecího efektu, zlepšení difuze iontů a flexibilní návrhy zařízení. Možnost vytvářet heterostruktury s synergickými vlastnostmi, jako je zlepšené oddělení nábojů nebo elektronový transport, představuje nový krok k vývoji flexibilních a nošených zařízení pro ukládání energie.
V této souvislosti je nutné věnovat pozornost nejen vlastnostem jednotlivých materiálů, ale i technikám a přístupy, jakými lze manipulovat s geometrií a interfejsy těchto vrstev. K tomu se využívají různé metody, jako je chemická depozice z plynné fáze (CVD), molekulární epitaxe nebo exfoliace, což umožňuje jemné řízení tloušťky vrstev a orientace krystalů. Použití těchto metod je klíčové pro optimální návrh vlastností materiálů v závislosti na konkrétní aplikaci. Exfoliace a manipulace s napětím na 2D vrstvách (např. mikroformování nebo přenosové tisky) mohou výrazně měnit jejich elektrickou strukturu a tím ovlivnit jejich funkčnost v cílových zařízeních.
Dalšími technikami pro úpravu vlastností 2D polovodičových materiálů jsou doping a povrchová funkcionalizace. Doping, tedy zavádění cizích atomů nebo molekul do mřížky, umožňuje modifikaci elektrických a optických vlastností materiálů. Povrchová funkcionalizace pak umožňuje přizpůsobení chemické reaktivity, což je užitečné například pro aplikace v katalýze, biosenzorech nebo jiných detekčních technologiích. Vytváření heterostruktur spočívá ve vrstvení různých 2D materiálů s doplňujícími se vlastnostmi, což umožňuje vyladit konkrétní elektrické nebo optické vlastnosti daného zařízení.
Významným přístupem k predikci a optimalizaci vlastností 2D polovodičových materiálů jsou počítačové simulace a modelování. Pomocí těchto nástrojů je možné simulovat chování materiálů s různými geometrickými a interfejsovými vlastnostmi, což poskytuje hlubší pochopení fyzikálních principů a umožňuje nasměrovat experimentální úsilí k dosažení požadovaných vlastností.
Kromě těchto technologií a přístupů je důležité také zohlednit širokou škálu aplikací 2D polovodičů v různých průmyslových oblastech. Dvouvrstvé polovodiče, jako je MoS2 nebo WS2, mají závislost na tloušťce, což ovlivňuje jejich zakázkovou bandgap (energetickou mezeru). Tato variabilita umožňuje vývoj materiálů s přesně definovanými elektrickými vlastnostmi, což je ideální pro použití v transistorech, fotodetektorech nebo optoelektronických prvcích. 2D materiály mají také kvantové omezení, které zvyšuje mobilitu elektronů, což je klíčové pro vysokorychlostní elektroniku a kvantové výpočty.
Důležitým faktorem je také vysoký poměr povrchu k objemu, který mají 2D polovodiče. To znamená, že jejich povrchová citlivost je mnohem vyšší než u běžných třírozměrných materiálů. Tento jev činí 2D polovodiče ideálními pro aplikace v senzorech, katalýze a detekci různých molekul v okolním prostředí. Díky těmto vlastnostem jsou vhodné pro výrobu plynů, biosenzorů a zařízení pro monitorování životního prostředí.
Navíc mechanické vlastnosti 2D polovodičů, včetně vysoké pevnosti v tahu a flexibility, je činí ideálními pro použití v flexibilní elektronice a nositelné technologii. I přes jejich nízkou hmotnost jsou schopné odolávat značnému mechanickému napětí, což je zásadní pro aplikace, kde je požadována lehkost a zároveň vysoká pevnost materiálů.
Vliv dvouvrstvých polovodičových materiálů na výkonnost a spolehlivost logických zařízení
Studium účinků dipólů na zlepšení výkonnosti a spolehlivosti různých typů dvouvrstvých polovodičových materiálů (2D-SCM) umožňuje prozkoumat korelace mezi uspořádáním mřížky těchto materiálů a jedinečnými vlastnostmi Ramanova zesílení. Použité techniky inženýrství kontaktů mohou zmírnit problémy spojené s kontaktní rezistencí tím, že sníží hustotu defektů na rozhraní substrátu, což vede k optimální funkčnosti zařízení. Významným příkladem jsou typické 2D-SCM materiály, jejichž optické, elektrické a tepelně vodivé vlastnosti jsou klíčové pro vývoj a aplikace moderních elektronických zařízení.
Jedním z nejintrikovanějších směrů výzkumu je zlepšení logických struktur zařízení s 2D-SCM. Taková zařízení, zejména v oblasti paměťových technologií, ukazují velký potenciál, jak vyřešit problémy současných silikonových technologií. Dvouvrstvé paměťové prvky, jako jsou 2D NAND flash paměti, nabízejí oproti 3D NAND alternativám výrobní výhody, neboť umožňují individuální výrobu paměťových tranzistorů s parametric control pomocí litografie a dalších výrobních technik. Doba programu a vymazání pro 2D paměťové materiály dosahuje pouze 20 ns a umožňuje ukládání dat při napětích nad 50 V, což otevírá cestu k novým kapacitním jednotkám, jež mohou překonat možnosti dnešních TLC či QLC pamětí.
Integrace 2D materiálů se silikonovými technologiemi představuje konkrétní řešení pro tradiční problémy, jež trápí elektronická zařízení na bázi křemíku. Prvky jako MBCFET (multi-bridge-channel field-effect transistor) využívající vrstvené 2D nanosheets nebo FINFET s vertikálně pěstovanými 2D kanály umožňují novou třístrannou strukturu řízení a zlepšují celkový výkon zařízení. Kromě tradičního MOSFET (metal-oxide-semiconductor field-effect transistor) se jako efektivní alternativy uplatňují i DSFET, TFET nebo NCFET, které řeší problém energetické efektivity.
V oblasti logických obvodů a umělých neuronových sítí se zkoumá možnost využití bipolarity vodičů v 2D-SCM materiálech. Schéma architektury umělé neuronové sítě (ANN) ukazuje, jak propojit jednotlivé neurony či výpočetní jednotky pomocí synapsí nebo paměťových komponent. Grafenové memtranzistory mohou být použity k realizaci umělých synapsí v ANN, což otevírá nové možnosti v oblasti výpočetní techniky a umělé inteligence.
Dalším významným směrem je inženýrství atomových defektů a zkoumání vzniklých vlastností, které vedou k vývoji nových zařízení pro funkční aplikace. Mezi specifické aplikace těchto zařízení patří např. rádiové frekvenční spínače nebo nositelné biosenzory. V současnosti však stále existují technické výzvy, které je třeba vyřešit, například metodiky výroby, zlepšení výkonu zařízení a jejich integrace s již existujícími technologiemi.
Jedním z klíčových faktorů, kterými se 2D-SCM materiály vyznačují, je jejich schopnost upravit elektronické a mechanické vlastnosti pomocí napětí, což je známé jako inženýrství napětí. Tento přístup umožňuje přizpůsobit mřížkovou strukturu materiálu, což vede k výrazným změnám v jeho optických, elektrických a magnetických vlastnostech. Využití napětí k modifikaci fyzikálních vlastností materiálů se široce aplikuje v flexibilních nanoelektronických a optoelektronických zařízeních. Pomocí inženýrství napětí lze dosáhnout nových funkcí, které by byly jinak obtížně realizovatelné.
Transportní mechanizmy nosičů v logických obvodech 2D-SCM jsou dalším klíčovým tématem, které se stále vyvíjí. V současnosti se hledají způsoby, jak zlepšit přenos nosičů v těchto materiálech, což je zásadní pro zajištění vysokého výkonu elektronických zařízení. Inkjet tisk je jednou z metod, která umožňuje výrobu levných a škálovatelných zařízení s vylepšenými schopnostmi přenosu na čipu. Tato technologie, využívající tisku na kanál MoS2, umožňuje výrobu transistorských zařízení, která vykazují zlepšené vlastnosti v oblasti mobilit, průchodu proudu a vztahu mezi zapnutým a vypnutým stavem.
Dalším významným pokrokem v oblasti 2D-SCM zařízení je zkoumání scatteringových mechanismů, které ovlivňují výkon těchto logických obvodů. V posledních letech byly učiněny významné pokroky v porozumění procesu scatteringu v těchto zařízeních, což pomohlo vylepšit jejich stabilitu a výkon v reálných podmínkách.
Jak 2D polovodiče mění vývoj memristorů a nových elektronických zařízení?
Memristory jsou dnes považovány za jeden z nejperspektivnějších typů zařízení pro elektroniku nové generace, přičemž jejich aplikace sahají daleko za hranice tradičních paměťových technologií. Tyto zařízení, která využívají principy rezistivního náhodného přístupu (RRAM), jsou oblíbená pro svou schopnost rychlého zápisu a čtení, nízkou spotřebu energie, dlouhou životnost a velkou hustotu ukládání dat. I když memristory původně vznikly na bázi kov-izolátor-kovových (MIM) struktur, nové výzkumy zaměřené na 2D materiály naznačují, že tyto materiály mohou výrazně zlepšit jejich výkon a stabilitu.
Ve světě tradičních nevolatilních pamětí (NVM) jako jsou magnetické paměti nebo paměti změny fáze (PCM) si memristory stále více získávají popularitu. V porovnání s těmito alternativami se vyznačují vysokou flexibilitou při integraci do různých aplikací, a to nejen v oblasti pamětí, ale i v oblasti nevolatilních logických operací a neuromorfního výpočtu. Memristory umožňují vyřešení problému tzv. von Neumannovy úzké brány, tedy problému oddělení výpočetních a paměťových funkcí v tradiční architektuře počítačů. V neuromorfních výpočtech zase umožňují simulaci biologických synapsí, díky čemuž mohou být využity k napodobení chování lidského mozku v umělých inteligencích.
Původní definice memristoru, kterou přednesl Leon Chua, říká, že každý dvou-terminálový NVM přístroj využívající změnu odporu (resistivní přepínání, RS) je memristorem, bez ohledu na materiál a fyzikální mechanismus jeho fungování. Experimentálně je memristor definován jako zařízení, které vykazuje hysterezi na I-V charakteristice, což je obvykle patrné na pinčované křivce.
Tradiční memristory se skládaly především z kov-izolátor-kovových struktur, přičemž materiály jako TiOx, HfOx, AlOx nebo TaOx byly využívány jako vrstvy pro rezistivní přepínání. Tento přístup měl však své limity, zejména co se týče stability rezistivního chování a zmenšování velikosti v trojrozměrných (3D) strukturách. Pokroky v oblasti 2D materiálů, jako jsou MoS2, h-BN nebo SnS, otevřely nové možnosti pro zlepšení výkonu memristorů. Významným pokrokem je nahrazení kovových oxidů 2D materiály, které vykazují výborné elektrické, optické, mechanické a tepelné vlastnosti a zároveň umožňují lepší škálovatelnost.
Memristory vyrobené na bázi 2D materiálů, jako je MoS2, h-BN nebo monovrstvy SnS, vykazují vynikající stabilitu a výrazně lepší parametrické hodnoty než tradiční 3D memristory. Například memristor na bázi 2D materiálu SnS vykazuje obrovský on/off poměr až 10^8, což je mnohem vyšší než u 3D zařízení. To je způsobeno především stabilitou materiálů, kde 2D struktury vykazují homogenní chování, na rozdíl od tradičních kovových oxidů, které obsahují náhodné defekty a nejednotnosti. Tato stabilita má zásadní vliv na spolehlivost přepínání a snižování únikových proudů, což jsou problémy, které byly běžné u konvenčních MIM memristorů.
Mnohé 2D materiály, které vykazují rezistivní přepínání, jsou polovodiče, což znamená, že mohou být použity nejen pro paměťové aplikace, ale také pro logické operace nebo pro napodobení synaptických funkcí v neuromorfních výpočetních systémech. Přepínání odporu v těchto 2D materiálech může probíhat s velmi malými napětími, což je další výhoda v porovnání s tradičními paměťovými zařízeními. Tato vlastnost je klíčová pro miniaturizaci a snížení spotřeby energie, což jsou kritické faktory pro budoucí elektronické aplikace.
Pokud se podíváme na vývoj ve výrobních metodách, řeší se v současnosti několik klíčových výzev týkajících se zpracování 2D materiálů. Zatímco tradiční procesy výroby 3D memristorů využívající kovové oxidy jsou dobře známé, výroba 2D materiálů pro tyto účely je stále v experimentální fázi. Mezi klíčové metody patří různé techniky exfoliace a chemické depozice, které umožňují přípravu kvalitních monovrstev 2D materiálů, jež mohou být použity jako aktivní vrstvy v memristorech.
V rámci aplikací jsou 2D memristory stále ve fázi vývoje, ale již se ukázalo, že mohou výrazně přispět k rozvoji nových typů pamětí s nízkou spotřebou energie, vysokou hustotou a rychlým zápisem/čtením. Vzhledem k jejich malým rozměrům a schopnosti pracovat s nízkými napětími se jeví jako ideální pro použití v nanoskalových zařízeních, jako jsou integrované obvody, paměťové moduly nebo systémy umělé inteligence, které budou závislé na neuromorfních výpočtech.
Memristory na bázi 2D materiálů také otevírají nové možnosti pro výrobu hybridních obvodů, kde se 2D materiály kombinují s tradičními polovodiči nebo dokonce s kovovými materiály, což umožňuje jejich integraci do existujících výrobních procesů.
Pokud jde o budoucnost 2D-SCM memristorů, výzkum v oblasti materiálů, výrobních metod a aplikací je stále v počáteční fázi, ale je jasné, že tento směr má obrovský potenciál pro revoluci v elektronice. Další pokroky v oblasti zlepšení stability a výkonu těchto zařízení budou hrát klíčovou roli při přechodu na nové generace elektronických zařízení a systémů.
Jaké mechanismy ovlivňují chování memristorů založených na 2D polovodičových materiálech?
Memristory založené na 2D polovodičových materiálech (2D-SCM) se staly jedním z nejvíce zkoumaných a diskutovaných témat v oblasti elektroniky a fotoniky, přičemž jejich chování a fyzikální principy jsou klíčové pro pochopení jejich potenciálu v aplikacích, jako jsou paměti, senzory a další paměťová zařízení. K pochopení tohoto chování je nezbytné analyzovat různé mechanismy přepínání odporu (RS), které jsou základní pro fungování těchto zařízení. V rámci této kapitoly se zaměříme na hlavní mechanismy, které ovlivňují chování 2D-SCM memristorů, přičemž zvláštní pozornost bude věnována elektrochemickému mechanismu (ECM), mechanismu změny valence (VCM) a dalším efektům, které mohou hrát roli při přepínání odporu.
Elektrochemický mechanismus (ECM) je mechanismus, který je založen na pohybu kovových kationtů pod vlivem elektrického pole. Když na aktivní vrstvu memristoru působí elektrické pole, dochází k oxidaci materiálu a vytváření kovových kationtů, které se pohybují směrem k inerčnímu elektrodě. Tyto kationty se postupně redukují na inertní elektrody, čímž vytvářejí kovový vodivý filament. Pokud je rychlost migrace kationtů v RS vrstvě vysoká, filament se začne tvořit směrem od inerční elektrody k aktivní vrstvě, což způsobí přepnutí z nízkého odporového stavu (LRS) na vysoký odporový stav (HRS). Tento mechanismus je poměrně vzácný u 2D polovodičových materiálů, protože většina těchto materiálů není pevně elektrolytem nebo dielektrikem, což činí tvorbu filamentů v RS vrstvě složitou.
Mechanismus změny valence (VCM) je častější mechanismus, který se vyskytuje v mnoha memristorech založených na 2D polovodičových materiálech. Tento mechanismus se může rozdělit na filamentární a rozhraní typ VCM. Při filamentárním VCM dochází k migraci vakancí v RS vrstvě, což vede k změně valenčních stavů atomů a vytváří se ne kovový vodivý filament. Takto se například chová memristor na bázi GaSe, u kterého vakance galia migrují a vytvářejí p-typ vodivý filament.
VCM může také ovlivnit rozhraní mezi RS vrstvou a elektrodou. Při tomto procesu migrace vakancí mění výšku Schottkyho bariéry na rozhraní, což může přepnout přenosové vlastnosti mezi Schottkyho a Ohmickým chováním. Měnící se bariéra může vést k přímému tunelování nebo tunelování podle modelu Fowler-Nordheim. Příkladem tohoto chování jsou I–V křivky Au/1L-MoS2/Au memristorů, které vykazují lineární chování při nízkém odporu a nelineární při vysokém odporu.
Mechanismus zachytávání a uvolňování náboje je další mechanismus, který souvisí s přítomností defektů na rozhraní mezi RS vrstvou a elektrodou. V tomto případě se elektrony nebo díry zachycují v defektech, což mění strukturu Schottkyho bariéry a způsobuje změnu odporu. Tento efekt je pozorován v některých zařízeních, kde například křemík-oxid-MoS2 struktura využívá vágně přítomné Si-O vazby jako elektronové pasti. Když je aplikován přední bias, elektrony se zachytí v těchto pastech, což vede ke zvýšení bariéry a přepnutí zařízení do HRS. Při aplikaci zpětného biasu se elektrony uvolňují a zařízení se vrací do LRS.
Mezi další zajímavé mechanismy, které mohou být přítomny v 2D-SCM memristorech, patří prostorově omezené proudy (space-charge-limited currents), kde defekty v RS vrstvě zachycují nosiče náboje a ovlivňují přenosový mechanismus. Ferroelectrické efekty a fáze změny materiálů mohou rovněž přispět k chování memristoru. Některé memristory, například Au/LixMoS2/Au memristory, využívají fázové přechody pro realizaci přepínání odporu.
V neposlední řadě je důležitým faktorem při přepínání odporu i magnetické jevy, které jsou způsobeny změnami napětí. Tyto jevy jsou základní pro magnetické tunnelové memristory, kde pohyb doménových stěn pod vlivem napětí řídí memristivní chování.
Ačkoli existuje široká paleta mechanismů, které mohou být využity v 2D-SCM memristorech, základním faktorem úspěchu těchto zařízení je schopnost pochopit jejich fyzikální principy a vlastnosti materiálů, což otevírá možnosti pro vývoj nových typů memristorů. Výzvou zůstává dosažení dlouhodobé stability a optimalizace výkonu, jakož i standardizace testovacích metod pro zajištění konzistentních výsledků mezi různými výzkumnými skupinami. Významným faktorem, který brání rychlému přechodu těchto zařízení do průmyslové výroby, je také potřeba zlepšit výrobní procesy, které umožní masovou produkci těchto vysoce výkonných memristorů.

Deutsch
Francais
Nederlands
Svenska
Norsk
Dansk
Suomi
Espanol
Italiano
Portugues
Magyar
Polski
Cestina
Русский